HighFinesse WF7 IR-II高速工业波长计 波长1400–2600nm详细介绍

特性

● 测量范围:1400–2600 nm

● j对精度:60MHz

● 测量速率(连续/短时间): 20/38 kHz

概述

WF7 IR-II 以c高测量速率达到更高的波长表征精度水平。

同时，波长计精心设计的光学器件非常灵敏，使其成为研究快速波长动力学的理想工具，即使是非常弱的光源。

规范

Measurement range (QE > 60%)                         1400–2600 nm

Absolute accuracy                                                60 MHz

Quick coupling accuracy                                      200MHz

Wavelength deviation sensitivity                         10 MHz

Exposure Times¹⁾                                                 26–20000 ?s

Measurement Rate (continuous/short time)       up to 20000Hz/up to 38 kHz

Live Calculation Speed²⁾                                      5 kHz

Live Calculation Latency²⁾                                    10 ms–150μs

Minimum required input energy and power         0.4 nJ corresponding to 15 ?W  @ 26 ?s exposure time

Fizeau interferometers(FSR)                                   8 GHz /16 GHz

Calibration                                                              A well known laser source(e.g. SLR 1532) Δν <10 MHz

Recommended calibration period                         1 day

Warm-up time                                                       30 min

Dimensions                                                            436 × 342 × 133 mm

Weight                                                                   3.5 kg

Interface                                                                GbE

Power supply                                                         100 – 240 V, 50 – 60 Hz

1) Depends on gain mode. 

2) Depends on PC and measurement rate.

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激光控制：激光电流源、激光器温控器、激光器控制、伺服设备与系统等等

探测器：光电探测器、单光子计数器、单光子探测器、CCD、光谱分析系统等等

定位与加工：纳米定位系统、微纳运动系统、多维位移台、旋转台、微型操作器等等

光源：半导体激光器、固体激光器、单频激光器、单纵模激光器、窄线宽激光器、光通讯波段激光器、CO2激光器、中红外激光器、染料激光器、飞秒超快激光器等等

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光学平台：主动隔振平台、气浮隔振台、实验桌、刚性工作台、面包板、隔振、隔磁、隔声综合解决方案等等

光学元件：各类晶体、光纤、偏转镜、反射镜、透射镜、半透半反镜、滤光片、衰减片、玻片等等

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